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dc.contributor.advisorBustamante Domínguez, Ángel Guillermo
dc.contributor.authorMenacho Rodriguez, Lucila Alicia
dc.date.accessioned2018-05-30T08:06:10Z
dc.date.available2018-05-30T08:06:10Z
dc.date.issued2016
dc.identifier.citationMenacho, L. (2016). Estudio de la influencia de la potencia Raman aplicada sobre el sistema de partículas finas de óxido de hierro/grafeno. [Tesis de pregrado, Universidad Nacional Mayor de San Marcos, Facultad de Ciencias Físicas, Escuela Profesional de Física]. Repositorio institucional Cybertesis UNMSM.
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12672/7590
dc.descriptionPublicación a texto completo no autorizada por el autor
dc.description.abstractPartículas finas de óxido de hierro (P.F. FexOy) fueron obtenidas por el método de ablación laser para luego ser funcionalizadas con grafeno. Para la obtención de P.F. FexOy se usó un blanco de hierro al 99.9% de pureza; el cual fue colocado en una solución de agua ultrapura con polivinilpirrolidona (PVP) a una concentración de 0.04% [g/ml]. Sobre esta solución se incidió un láser de Nd/YA, Nanosecond Laser Quanta Ray, de longitud de onda de 532nm, potencia de 20W y un tiempo de ablación de 6h. El modo de focalización del láser fue “focal point” y para ello se utilizó una lente biconvexa de distancia focal de 5, 6 y 7.5cm. Para el estudio de la influencia de la P.F. FexOy sobre grafeno con campo magnético B y sin B, se utilizó la muestra correspondiente a la lente de 6cm de distancia focal, ya que los resultados por DLS Z potencial mostraron una distribución y tamaño menor de partícula uniforme promedio de 190.6 nm. La obtención del grafeno se hizo por exfoliación mecánica en un sustrato de óxido de silicio. Las muestras fueron caracterizadas por Espectroscopia Raman a diferentes potencias, separando los resultados en 3 sistemas de la siguiente forma: primero se midió espectros de un sustrato de óxido de silicio a diferentes potencias con un B de 3000G y sin campo magnético (sistema 1). Los resultados mostraron un aumento de intensidades cuando hubo interacción con el campo de 3000G. Luego se colocó las P.F. FexOy en el sustrato de óxido de silicio y todo el sistema se hizo interaccionar con campo magnético de 3000G (sistema 2) y se logró identificar las fases de óxido de hierro correspondiente a la magnetita (670 cm-1), maghemita (494 cm-1) y hematita (415,618 cm-1). Por otro lado, se determinó la obtención de la monocapa de grafeno, cuyas bandas G y 2D se localizaron a 1585 cm-1 y 2675 cm-1 respectivamente. Finalmente, fueron estudiadas las P.F. FexOy en grafeno ante la presencia de un campo magnético y sin campo (sistema 3), en función de la potencia del láser.
dc.description.uriTesis
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad Nacional Mayor de San Marcos
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/closedAccess
dc.sourceRepositorio de Tesis - UNMSM
dc.sourceUniversidad Nacional Mayor de San Marcos
dc.subjectÓxidos de hierro
dc.subjectÓxido de silicio
dc.subjectGrafeno - Propiedades eléctricas
dc.subjectAnálisis espectral
dc.subjectLáser
dc.subjectPartículas (Física nuclear)
dc.titleEstudio de la influencia de la potencia Raman aplicada sobre el sistema de partículas finas de óxido de hierro/grafeno
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesis
thesis.degree.nameLicenciada en Física
thesis.degree.grantorUniversidad Nacional Mayor de San Marcos. Facultad de Ciencias Físicas. Escuela Profesional de Física
thesis.degree.levelTitulo Profesional
thesis.degree.disciplineFísica
dc.subject.ocdehttps://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.03.03
dc.publisher.countryPE
renati.advisor.dni06445752
renati.advisor.orcidhttps://orcid.org/0000-0001-5892-3500
renati.author.dni47522644
renati.discipline533056es_PE
renati.jurorLandauro Sáenz, Carlos Vladimir
renati.jurorRivera Riofano, Pablo Héctor
renati.jurorFlores Santibáñez, Jesús Walter
renati.levelhttps://purl.org/pe-repo/renati/level#tituloProfesional
renati.typehttps://purl.org/pe-repo/renati/type#tesis
sisbib.juror.dni09613168
sisbib.juror.dni08280449
sisbib.juror.dni08524828


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