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Caracterización de aleaciones semiconductoras por espectroscopía Raman
(Universidad Nacional Mayor de San Marcos, 2009)
En esta tesis se presenta un estudio por espectroscopía Raman de la calidad estructural del cristal y del comportamiento de los modos acoplados en las aleaciones AlxGa1-xAs dopadas con Silicio. Como se sabe, cuando las ...
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